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详细摘要： Film Sense FS-1多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可 靠地薄膜测量。大多数厚度...

详细摘要： Filmetrics F20 白光干涉膜厚测量仪是一款高精度、多功能的测量设备，能够快速测定薄膜厚度、光学常数、反射率和透过率等特性。其非接触式测量方式适合各种...

详细摘要： 美国博曼K系列XRF高精度涂层测量系统，具备12英寸×12英寸的测量区域，适用于多种样品检测。

详细摘要： B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式。配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓，通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置...

详细摘要： Filmetrics F10-RT 薄膜测量仪同步测量薄膜的反射率/穿透率，F10-RT使Filmetrics的分析能力实现了同步测量反射率与穿透率。只要立即的...

详细摘要： Filmetrics 光学膜厚测量仪测厚仪嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测量结果

详细摘要： Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪薄厚测量 同步测量薄膜的反射率/穿透率，如需了解更多，查询。。。。

详细摘要： 桌面式薄膜测厚仪美国Filmetrics F50 光学膜厚测量仪自动化薄膜厚度绘图系统 依靠 F50的光谱测量系统，可以很简单快速地获得Z大直径 450 毫米的...

详细摘要： Filmetrics 光学薄膜测厚仪 F40 结合显微镜的薄膜测量系统 ，精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反...

详细摘要： Filmetrics 光学膜厚测量仪依靠 F60 的光谱测量系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。 采用 r-θ 极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测...

详细摘要： -Filmetrics光学膜厚测量仪：不论您是想要知道薄膜厚度、光学常熟，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过...

详细摘要： 借助F54-XY-200薄膜厚度测量仪光谱反射系统，可以轻松地测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量，...

详细摘要： -Filmetrics光学膜厚测量仪：F32的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置（EXR和UVX版本多...

详细摘要： 借助F54-XYT-300薄膜厚度测量仪的光谱反射系统，可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚...

详细摘要： Filmetrics薄膜厚度测量仪：F3-sX系列膜厚测量仪利用光谱反射原理，可以测试众多半导体及电解层的厚度，可测大厚度达3毫米。此类厚膜，相较于较薄膜层表面...

详细摘要： Filmetircs 光学膜厚测量仪满足薄膜厚度范围15nm到3mm的厚度测试系统，如需了解更多 光学膜厚测量仪膜厚测试仪 F3-sX 信息，咨询。

详细摘要： HORIBA 一键式全自动快速椭偏仪是新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计，操作简单，可在几秒钟内完成全自动测量和分析，并输出分析报告。是用于快速薄膜测...

详细摘要： -Filmetrics膜厚测量仪-F54系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达4...

详细摘要： HORIBA 研究级经典型椭偏仪是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的...